时间：2016年10月13日（星期四）下午15：00
地点：材料科学与工程学院8号楼二楼会议室

报告摘要：
       扫描电子显微镜（SEM）以其操作简单、扫描范围尺寸大、立体成像效果好、结果解释容易等特点而深受研究者喜欢；其容易承受的价格合适及维护成本较低，使很多单位能够拥有扫描电镜。扫描电镜是很重要的材料表面形态分析手段，除了表面形貌成像外，现代扫描电镜可以加装各种附件，具有化学成分分析、晶体结构分析、晶体取向确定、截面分析、微加工、原位性能测试和低压扫描透射等诸多功能。本讲座将以美国加州大学欧文材料研究所（Irvine Matetials Research Institute，IMRI）设备平台为基础，介绍一些高级扫描电镜的技术及应用。

附报告人简介：
       现任美国加州大学欧文材料研究所项目科学家（教授级），研究设备平台主任。毕业于南京大学物理系，师从中科院院士冯端教授，获固体物理专业理学学士、硕士和理学博士学位。博士后工作为电子显微术，师从英国皇家院士、英国布里斯托尔大学John Steeds教授。曾任南京大学物理系助教，南京大学物理系、微结构国家重点实验室讲师和副教授；德国图宾根大学物理化学研究所访问学者和客座科学家；英国利物浦大学材料及工程系的资深电镜主管；美国西北大学材料及工程系研究助理教授和电镜中心主管。当选为英国皇家显微学会士(Fellow)，为美国材料学会员、美国物理学会会员、美国电镜学会会员，任南京大学兼职教授，并是多种国际知名学术杂志审稿人。研究领域包括电子显微术、纳米材料、材料物理、 功能材料、界面与晶体缺陷。在同行评议学术期刊发表文章超过80篇，被引用超过5000次。