讲座内容：关于Skyscan Micro –CT系列仪器用来观察纸张三维结构图像和测定纸张孔隙率的仪器介绍。
　　主讲人：Micro Technology公司
　　时间：2010年5月14日下午15:00
　　地点：制浆造纸工程国家重点实验室301会议室

制浆造纸工程国家重点实验室

2010年5月12日