X-射线衍射仪

（X-ray diffraction）

设备型号

Empyrean锐影X射线衍射系统

生产厂家

荷兰帕纳科公司

工作原理

用一束单色X射线照射在多晶（粉末）样品上，X射线管和探测器以相同角速度绕测角仪圆轴线相向旋转，当入射线与平行于样品表面的某一指数晶面之间的夹角满足布拉格方程时，即可产生衍射。用探测器接收衍射信号并累计其强度。随着衍射角从低角至高角增大，探测器逐个接收不同角度下不同晶面的衍射线，记录得到衍射数据和衍射谱线，用以进行物相鉴定和晶体结构的研究。

主要应用

X射线衍射分析是进行物相定性、定量分析及晶体结构研究最常用的方法，可用于物相的定性和定量分析、精确测定点阵常数和纳米晶尺寸、分析结晶度和表面残余应力等。