200 kV透射电子显微镜
显微观测类
200 kV透射电子显微镜
发布时间:2019-09-29        浏览次数:292



200 kV透射电子显微镜

品牌

日本JEOL

型号

JEM-F200

负责人

王晶

联系方式

020-22237330,wangj81@scut.edu

安放地点

北区科技园2号楼106-107室

主要配置

1、HR高分辨极靴,Gatan OneView底装式相机(16M物理像素),TEM明场点分辨能力0.23 nm,晶格分辨能力0.10 nm,HAADF-STEM分辨能力0.19 nm;

2、STEM模式下可同时实现背散电子成像(BEI)和二次电子成像(SEI);

3、EDS系统立体角范围1.7 sr,双探头,每探头有效感光面积100 mm2,能量分辨率133 eV;

4、软件系统支持普通明场、STEM、EDS等模式下的三维重构数据采集与分析;

5、液氮冷冻传输系统最低工作温度-170 

6、Gatan 914冷冻样品杆最大α倾转角±50°;

7、高倾样品杆最大α倾转角±70°;

8、普通样品杆最大α倾转角±35°。

基本用途

1、常规工作模式:TEM-BF、TEM-DF、ED、HAADF-STEM、BEI、BSI、EDS;

2、上述模式下图像数据的三维重构;

3、液氮冷冻条件下的上述观测实验。


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