谱学分析类
品牌:Thorlabs Inc.
型号:LCC7201B
负责人:黄明俊/邹宇
联系方式:15770681732
放置地点:五山科技园2号楼524
主要配置:
1. 光源波长:633 nm LED光源
2. 测量范围:标准延迟范围:0 nm 至 316 nm 低延迟范围:0 nm 至 100 nm
3. 方位角测量范围±90°
4. 延迟测量精度:标准延迟范围:±10 nm,低延迟范围:±1 nm
5. 方位角测量精度:标准延迟范围:±3°,低延迟范围:±1°
6. 测量速率:20 秒(基于默认相机设置)
7. 视野直径≥20 毫米
8. 空间分辨率≥0.77 微米
9. 成像仪分辨率≥2048 × 2048 像素
10. 尺寸(深 × 宽 × 高)≥500.0 毫米×360.0 毫米×672.0 毫米
基本用途:双折射成像系统是一种利用光的双折射现象(即光入射到各向异性材料时分裂为两束偏振光并产生相位差)来观察和分析样品微观结构的光学仪器。可用于生物医学、材料学、地质学与矿物学中样品内部的微结构观察。