多功能椭圆偏振仪

品牌：J.A. Woollam

型号：RC2

负责人：王营营

联系方式：020-22237330，wangyy86@scut.edu.cn

放置地点：五山校区科技园2号楼114

主要配置：

1. 样品台：自动旋转垂直样品台、控温样品台

2. 元素测量：可测量穆勒矩阵全部16个元素，适用于复杂纳米结构（如各向异性材料、磁性薄膜）的表征，提供更全面的偏振态信息。

3. 动态与超快分析：极快测量速度（全光谱数据采集仅需0.05–1秒），支持动态过程的实时监测。

4. 测试样品：支持固体、液体、气体接触界面的测量，并兼容大块材料、超薄膜（低至0.5 nm）及多层复合结构。

基本用途：

能够测量单层或多层透明/半透明薄膜的厚度、折射率、消光系数及光学常数（如复介电常数）。支持液体膜层和动态界面（如固体-液体接触界面）的表征。