小角X射线散射仪

品牌：Xenocs

型号：Xeuss 3.0 HR

负责人：李海莹

联系方式：020-22237330，lihaiying@scut.edu.cn

放置地点：国际校区c2b-114房间

主要配置：

1. Excillum D2+液态金属靶点光源：液态Ga-In合金，输出波长1.34 Å（Ga Kα），焦斑≤ 20 μm

2. GeniX 3D铜靶点光源：焦斑≤ 30 μm，输出波长1.54 Å

3. 无散射狭缝准直系统：狭缝宽度可在0.15～2.0 mm范围内改变，样品处X射线最大通量 ≥ 1.0×109 phs·s-1

4. EIGER2R 4M二维半导体阵列探测器：探测器到样品的距离可在300～1800 mm范围内改变，像素尺寸 ≤ 75 μm × 75 μm

5. 三转轴掠入射（GISAXS）样品台：掠入射角范围−3～+5°；样品倾角范围±3°区间；样品面内旋转角范围±90°区间

6. 程序控温样品台：变温范围−150～+300 °C

基本用途：

1. 2D-SAXS/2D-WAXS透射测试（样品类型：粉末或块状固体、薄膜、纤维、溶液、凝胶）； 

2. 2D-GISAXS/2D-GIWAXS掠入射测试（样品类型：薄膜）

3. 主要用于表征从几纳米到近百纳米范围的介观结构和形态特征：如粒子形状和尺寸分布、结晶度、物相鉴定、取向分析、表面结构与散射图案，以及纳米结构转变的原位变化等