谱学分析类

棱镜耦合仪

品牌:Metricon

型号:Model 2010/M

负责人:李海莹

联系方式:020-87111280,lihaiying@scut.edu.cn

安放地点:五山北区科技园2号楼114

主要配置:

1. 激光器:450nm和780nm各一个

2. 波导损耗测试附件:波长覆盖范围450-1100nm。

3. 双折射附件:波长635nm、450nm、780nm各一组

4. 普通棱镜:用于常温下折射率1.8-2.45的样品测试

5. 温控附件:包含可加热棱镜,用于加热状态样品的测试。

基本用途:

可快速、准确地测量介电膜和聚合物薄膜的厚度、折射率/双折射率,以及块状材料的折射率。

1. 双折射与各向异性测量:支持测量材料在x、y、z方向上的折射率差异,适用于液晶、双折射聚合物等各向异性材料的分析。

2. 可选配温度控制模块,测量材料折射率随温度的变化特性。

3. 宽波长色散分析:通过多激光器配置(如405 nm至1550 nm),生成连续折射率-波长曲线。

4. 附加移动光纤模块,可测量波导传输损耗及模式分布,用于光通信器件优化。


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