报告主题：XPS表面分析技术原理、应用及数据处理漫谈

报告人：冯林博士（爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用工程师）

邀请人：曹艳（仪器平台主任）

报告时间：2024年10月16日14:10-16:40

报告地点：华南理工大学广州国际校区C2-a201

主办单位：前沿软物质学院大仪平台

报告摘要：

　　X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS）是利用X射线入射样品表面，通过探测出射的光电子来获取样品表面组成和化学态信息的一种表面分析方法。目前，XPS作为实验室中重要的表面分析技术手段，已经广泛地应用于材料、能源、催化、微电子以及半导体产业等领域中，对于理解其中的构效关系起到重要的作用。随着科学研究的深入，对XPS的测试要求也是越来越高，不仅要求提供高的能量分辨谱图，还要获取化学态的空间分辨信息，以及原位工作环境下的化学信息等。

　　本次讲座将讲解XPS原理、应用及数据处理等内容：（1）XPS原理和技术特点：表面分析、结合能、化学位移；（2）XPS应用：结合科学研究来分享XPS在化学态空间分辨中的应用案例，包括XPS化学态微区分析和深度分析；（3）XPS数据处理：结合能校准、化学态解析、谱峰拟合、数据拟合的合理性判定和数据快速批量拟合等。（4）XPS功能配件介绍：UPS（紫外光电子能谱）、LEIPS（低能量反光电子能谱）原理及其应用。

报告人简介：

　　冯林博士，爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用工程师。2015年-2020年在中国科学技术大学---国家同步辐射实验室获得博士学位，主要研究X射线光电子能谱（XPS）、扫描隧道显微镜（STM）等表面分析技术对低维碳纳米材料的表征。于2022年3月加入爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司，在PHI南京表面分析实验室负责表面分析测试，以及XPS分析技术应用培训，在XPS、UPS、LEIPS等多种表面分析技术的应用方面拥有丰富的经验。