报告题目：表面分析技术在能源材料表界面构效关系研究中的应用

报 告 人：鞠焕鑫（爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司博士）

报告时间：2024年07月10日（星期三）下午17:00—18:30

报告地点：造纸D楼306会议室

主办单位：轻工科学与工程学院

报告摘要：

分析技术在新材料和器件的基础科研以及高科技产业中占据举足轻重的地位，其中表面分析技术尤为重要。表面分析技术能够深入揭示材料表面的基本物理化学性质、表界面特性和电子结构等关键科学问题，从而指导新型材料的设计和制备。面对日益复杂的科学研究需求，传统的谱图数据已不足以满足当前的测试需求。更加先进的表面分析能力将为进一步探索表界面特性提供关键数据，例如利用微区技术可以获得元素和化学态的空间分布影像（mapping），结合离子溅射可以进行深度剖析（depth profile）。

本报告将并从空间分辨、深度分辨和原位表征多个维度，介绍常用表面分析技术中的X射线光电子能谱（XPS）、俄歇电子能谱（AES）以及飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）的原理、技术特点、及其在空间分辨和深度分析方面的进展和前沿应用。

报告人简介： 

鞠焕鑫博士，现任爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用科学家，应用与市场总监。先后于2009年和2014年在中国科学技术大学获得学士和博士学位，于2012年在华盛顿大学（西雅图）David Ginger教授课题组联合培养。于2014年-2018年，先后在中国科学技术大学国家同步辐射实验室担任博士后和特任副研究员。自2018年，加入表面分析仪器公司，担任应用科学家和应用与市场总监。长期致力于软X射线谱学方法学研究以及能源材料/器件界面电子性质研究，在学术研究方面与用户合作在Science, Nature，Nature Photonics, NatureChemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater,Adv Funct Mater等期刊发表学术论文百余篇，主持并参与多个国家级科研项目。