原子力显微镜

（Atomic Force Microscope）

原子力显微镜的平面图像由像素点组成，扫描过程中，通过控制压电陶瓷的伸缩来驱动探针在样品表面扫描，记录材料平面坐标信息；通过压电陶瓷的伸缩量变化以及探针的振幅变化量探测并记录材料纵向的物理信息。扫描完每一个点，反馈回路将Z方向压电陶瓷的长度值及探针的振幅值调至预先设定的值，探针再移到下一点进行力接触，记录该点的物理信息。所有信息汇拢，组成一张原子力显微镜图像。

材料表面形貌的观察和分析；

FM对生物细胞的表面形态观察；

生物大分子的结构及其他性质的观测研究；

生物分子间力谱曲线的观测。

图一   对样品的逐点扫描示意图

图二  感应样品的原子力探针悬臂的放大图

图三  原子力显微镜3D形貌图