题  目：太赫兹多功能、高性能测试技术与仪器

时  间：2024年11月21日（周四）10:00

地  点：国际校区B1-c101会议室

主讲人：邓建钦

主讲人简介：

邓建钦，中国电子科技集团有限公司首席专家，研究员，入选国家人才计划。长期从事毫米波及太赫兹测试技术研究和测试仪器研制工作，主持完成十余项国家项目，成功开发了系列毫米波及太赫兹测试仪器。获国家科技进步二等奖1项，省部级奖项6项，发表学术论文20余篇，授权国家发明专利30余项。

讲座内容：

测试伴随着太赫兹技术研究和应用开发的全链条，随着太赫兹通讯、雷达、空间探测等应用技术的快速发展，无论是基础材料、芯片、组件还是整机，都对太赫兹测试也提出了更高的要求，体现在如何测的更快、指标测的更全和测的更准，对测试仪器无论是硬件平台，还是测试算法等都提出了较大的挑战，也成为了太赫兹测试技术研究和仪器研制的焦点。本报告将围绕上述挑战，分析了实现太赫兹多功能高效测试和稳定精准测试面临的技术瓶颈，阐述了在多功能测试、高效测试和宽带测试等方面取得的最新技术进展。