显微观测类
200 kV透射电子显微镜
发布时间:2019-09-29
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200 kV透射电子显微镜 | ![]() |
品牌 | 日本JEOL |
型号 | JEM-F200 |
负责人 | 曹艳 |
联系方式 | 020-22237330,crystinacao@scut.edu.cn |
安放地点 | 北区科技园2号楼106-107室 |
主要配置 | 1、HR高分辨极靴,Gatan OneView底装式相机(16M物理像素),TEM明场点分辨能力0.23 nm,晶格分辨能力0.10 nm,HAADF-STEM分辨能力0.19 nm; 2、STEM模式下可同时实现背散电子成像(BEI)和二次电子成像(SEI); 3、EDS系统立体角范围1.7 sr,双探头,每探头有效感光面积100 mm2,能量分辨率133 eV; 4、软件系统支持普通明场、STEM、EDS等模式下的三维重构数据采集与分析; 5、液氮冷冻传输系统最低工作温度-170 ℃; 6、Gatan 914冷冻样品杆最大α倾转角±50°; 7、高倾样品杆最大α倾转角±70°; 8、普通样品杆最大α倾转角±35°。 |
基本用途 | 1、常规工作模式:TEM-BF、TEM-DF、ED、HAADF-STEM、BEI、BSI、EDS; 2、上述模式下图像数据的三维重构; 3、液氮冷冻条件下的上述观测实验。 |