显微观测类
高分辨扫描电子显微镜
发布时间:2019-09-29
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高分辨扫描电子显微镜 | ![]() |
品牌 | 日本JEOL |
型号 | JSM-7900F |
负责人 | 王营营 |
联系方式 | 020-22237330,wangyy86@scut.edu.cn |
安放地点 | 北区科技园2号楼110-111室 |
主要配置 | 1、电子束加速电压0.5~30 kV,最大工作电流500 nA; 2、SEM分辨能力:1 kV下0.7 nm,15 kV下0.6 nm; 3、STEM分辨能力0.6 nm,EDS mapping分辨能力30 nm; 4、Bruker XFlash 6|100 EDS探测器有效感光面积100 mm2,能量分辨率129 eV(Mn Kα); 5、Quorum PP3010T冷冻传输台系统最低工作温度-190 ℃,温度稳定性±1 ℃,具有前装式冷冻断裂装置和全自动离子溅射镀膜组件。 |
基本用途 | 1、合金、陶瓷、矿物、高分子、细胞、生物组织切片及各种复合/杂合材料在BEI、SEI、STEM、EDS等多种模式下的成像观测; 2、高分子、细胞、生物组织切片等样品的冷冻制备和原位观测。 |