关于举行德国马普高分子所牛泉博士学术报告的通知

2018-11-22 555

报告题目:聚合物发光二极管的老化机理

报  告  人:牛泉 博士,德国马普高分子所

邀  请  人:马於光 教授

报告时间:11月26日(星期一)上午8:30

报告地点:北区科技园1号楼国重502室

 

 

报告摘要:

聚合物发光二极管(PLEDs)可通过溶液加工方法制备,是实现低成本制备大面积薄膜显示的关键。然而,PLEDs 的使用寿命较短,表现为效率随使用时间逐步降低。这极大制约了PLEDs 的商业化应用前景。针对PLEDs 的本征老化问题,我们通过发展陷阱辅助复合理论与器件模拟方法,提出PLEDs的本征老化是由于激子与自由电荷相互作用,导致空穴陷阱的形成[1,2]。该空穴陷阱导致的非辐射性复合是PLEDs 使用中效率降低的根本原因。由此,我们利用“陷阱稀释”方法成功实现了对PLEDs本征老化现象的抑制[2]。同时,我们发现有机发光二极管的负电容现象与陷阱数量直接相关。我们量化了负电容与陷阱密度的关系,提出利用负电容现象定量检测器件老化中陷阱的形成[3]。我们的系列工作明晰了PLEDs 的本征老化机理,提出了抑制本征老化的解决方案,为商业化制备高稳定性PLEDs 提供了理论基础。

参考文献:

  1. Q. Niu, et al., Nature Materials 2018, 17, 557-562.

  2. Q. Niu, et al., Physical Review Letters 2018, 120, 116602.

  3. Q. Niu, et al., Advanced Electronic Materials 2016, 2, 1600103.

 

报告人简介:

2007年本科毕业于山东大学化学系,2010年在德国慕尼黑工业大学获理学硕士学位。2010-2013年分别在中国联想全球研发中心、德国斯图加特大学和德国亚琛工业大学从事研究工作。2013-2017年在德国马普高分子所攻读博士学位,导师为Paul·Blom教授。从2017年8月到现在在德国马普高分子所Paul·Blom教授课题组从事博士后研究。

 

研究领域是有机半导体与器件物理。在博士与博后期间,运用和发展理论与模拟方法,研究了聚合物发光二极管(PLEDs)的本征老化行为。近期工作明晰了PLEDs本征老化机理,提出可直接检测器件老化中陷阱形成的方法,并运用“陷阱稀释”方法实现了对PLEDs本征老化现象的抑制。相关工作以第一作者发表在Nat.Mater.和Phys.Rev.Lett.等期刊上。并获得第一发明人授权专利7项,其中美国专利3项。


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