显微观测类

200 kV透射电子显微镜

品牌:日本JEOL
型号:JEM-F200
负责人:曹艳
联系方式:020-87111280,crystinacao@scut.edu.cn
安放地点:北区科技园2号楼106-107室

主要配置:


  1. HR高分辨极靴,Gatan OneView底装式相机(16M物理像素),TEM明场点分辨能力0.23 nm,晶格分辨能力0.10 nm,HAADF-STEM分辨能力0.19 nm;

  2. STEM模式下可同时实现背散电子成像(BEI)和二次电子成像(SEI);

  3. EDS系统立体角范围1.7 sr,双探头,每探头有效感光面积100 mm2,能量分辨率133 eV;

  4. 软件系统支持普通明场、STEM、EDS等模式下的三维重构数据采集与分析;

  5. 液氮冷冻传输系统最低工作温度-170 ℃;

  6. Gatan 914冷冻样品杆最大α倾转角±50°;

  7. 高倾样品杆最大α倾转角±70°;

  8. 普通样品杆最大α倾转角±35°。

基本用途:


  1. 常规工作模式:TEM-BF、TEM-DF、ED、HAADF-STEM、BEI、BSI、EDS;

  2. 上述模式下图像数据的三维重构;

  3. 液氮冷冻条件下的上述观测实验。

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