3月18日至22日,英国谢菲尔德大学Oleksandr Mykhaylyk 研究员来访分子科学与工程学院与院内研究员开展小组讨论,探讨研究中的共性问题,并于3月21日上午公开举行一场主题为“小角x射线散射(SAXS)在材料结构表征中的应用”的学术报告。
小角x射线散射是一种非破坏性的方法,适用于纳米到微米尺度材料的结构表征。随着光学元件、同步辐射源和实验室SAXS仪器的最新发展,以及建模和分析方面的进一步进展,使SAXS技术成为软物质结构表征中最可靠和最受欢迎的技术之一。研究中Mykhaylyk欣喜的发现,x射线光源技术的发展提供了更高亮度x射线源,使得实验室SAXS仪器达到原来只有在同步加速器源上才能进行测试的水平。而这些进步大大扩展了实验室SAXS仪器的应用,并为材料测量提供了更大的灵活性,可以在不同的加工条件下对各种材料进行测量。
英国谢菲尔德大学Oleksandr Mykhaylyk 研究员
学术报告现场图
报告中,Oleksandr Mykhaylyk详细介绍了有关SAXS研究案例,比如演示互反空间模型和真实空间模型的应用,以及用于纳米颗粒和胶体系统结构表征的对比变异技术。流动诱导半晶聚合物结晶的时间分辨SAXS测量实例,聚合物在大振幅振荡剪切下结构取向的SAXS分析等,并给出有机卤化物钙钛矿在化学反应过程中聚合诱导嵌段共聚物时间分辨、原位自组装过程,以及共聚物的热诱导形态转变以及结晶动力学的SAXS表征等。
Oleksandr Mykhaylyk研究员现任英国谢菲尔德大学软物质分析实验室主任,在可见光、中子、X光衍射/散射,包括小角光散射、小角中子散射、X光衍射和单晶衍射领域是权威专家。