![]() |
关于举行2025年分析测试中心技术系列讲座之二——压电力显微镜(PFM)与开尔文探针显微镜(KPFM)在微区分析中的应用的通知 |
发布时间: 2025-04-08 浏览次数: 10 |
为了进一步提升我校科研人员对原子力显微镜(AFM)的使用水平,拓展其在材料压电性能分析以及表面电势/功函数分析领域的应用能力,分析测试中心特邀布鲁克公司王洋博士和毕金鑫博士两位应用工程师于2025年4月11日进校开展“布鲁克原子力显微镜测试技术研讨——压电力显微镜(PFM)与开尔文探针显微镜(KPFM)在微区分析中的应用”专题讲座。本次讲座旨在帮助师生深入理解AFM在测试材料压电性能以及微区表面电势分布方面的应用,提升科研水平,诚邀广大师生用户积极参加。 1、 时间安排
2、 讲座海报 3、 联系人:分析测试中心微区室 刘金超老师 电话:020-87111074 邮箱:csliujc@scut.edu.cn 温馨提示:本次培训人数有限,以系统显示预约成功为准。自带样品前来测试的师生,送样请提前咨询刘金超老师,按照要求准备样品。 |
中国 广州市 五山路 华南理工大学20号楼 分析测试中心 邮编:510640
电话(Tel):
020-87111074(业务办);
020-22236968(行政办)
传真(Fax):020-87114695
2015 ©华南理工大学分析测试中心 版权所有