3D光学轮廓仪 RTEC UP S-Dual
发布时间： 2022-05-12 浏览次数： 2071

3D光学轮廓仪

厂家：美国RTEC

型号：Up S-Dual

主要技术指标：

1、白光干涉模式和三维共聚焦模式可选

2、垂直分辨率亚纳米级，支持无缝拼接

3、支持样品反射率在0.05%-100%之间变化


应用范围：

1.应用于材料科学、纳米技术等领域的显微形貌、

2.各种材料表面粗糙度和磨损量的检测；




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