透射电子显微镜
厂家:日本电子株式会社
型号:JEM-1400plus
主要技术指标:
1、点分辨率:0.33nm;线分辨率:0.14nm;
2、加速电压:40~120KV
3、倾斜角(X/Y):±25/±25°;
4、配备德国Bruker公司电制冷能谱仪 Quantax 200,配备XFlash® 5030T探测器
应用范围:
1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;
2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;
3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;
4. 适合于快速进样。
中国 广州市 五山路 华南理工大学20号楼 分析测试中心 邮编:510640 电话(Tel): 020-87111074(业务办); 020-22236968(行政办) 传真(Fax):020-87114695 2015 ©华南理工大学分析测试中心 版权所有