场发射透射电子显微镜      

厂家：日本电子株式会社

型号：JEM-2100F

主要技术指标：

1、点分辨率：0.25nm；线分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm

2、加速电压：80，100，160，200KV

3、倾斜角（X/Y）：±42/±30°；

4、配备德国Bruker公司XFlash 5030T型X射线能谱仪

应用范围：

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定；

4.复合材料界面特性的研究。