场发射透射电子显微镜 JEOL JEM-2100F
发布时间: 2017-09-29 浏览次数: 14894



场发射透射电子显微镜      

厂家:日本电子株式会社

型号:JEM-2100F

主要技术指标:

1、点分辨率:0.25nm;线分辨率:0.102nmSTEM分辨率:0.20nm

2、加速电压:80100160200KV

3、倾斜角(X/Y):±42/±30°

4、配备德国Bruker公司XFlash 5030TX射线能谱仪

应用范围:

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;

4.复合材料界面特性的研究。


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