为了进一步提升我校科研人员对原子力显微镜（AFM）的使用水平，拓展其在材料压电性能分析以及表面电势/功函数分析领域的应用能力，分析测试中心特邀布鲁克公司王洋博士和毕金鑫博士两位应用工程师于2025年4月11日进校开展“布鲁克原子力显微镜测试技术研讨——压电力显微镜（PFM）与开尔文探针显微镜（KPFM）在微区分析中的应用”专题讲座。本次讲座旨在帮助师生深入理解AFM在测试材料压电性能以及微区表面电势分布方面的应用，提升科研水平，诚邀广大师生用户积极参加。
1、 时间安排
时间 | 内容 | 地点 | 主讲人 |
4月8日-4月10日 | 样品征集:需要测试PFM的师生可在系统上预约，成功后按时带样品前来测试 | 五山校区分析测试中心预约系统：https://atc.scut.edu.cn 预约大样品台扫描探针显微镜/原子力显微镜ICON 4月11日下午时段的机时 | / |
4月11日 10:00-11:30 | 压电力显微镜（PFM）与开尔文探针显微镜（KPFM）在微区分析中的应用 | 线下：五山校区33号楼601 线上：腾讯会议（187-890-243） | 王洋 博士 布鲁克纳米表面部中国区 应用科学家 |
4月11日 13:30-17:30 | 压电力显微镜（PFM）操作培训、数据采集技巧及结果分析 | 五山校区31号楼101C
| 王洋 博士 布鲁克纳米表面部中国区 应用科学家 |
2、 讲座海报
3、 联系人：分析测试中心微区室 刘金超老师
电话：020-87111074
邮箱：csliujc@scut.edu.cn
温馨提示：本次培训人数有限，以系统显示预约成功为准。自带样品前来测试的师生，送样请提前咨询刘金超老师，按照要求准备样品。
