讲座主题：飞行时间二次离子质谱技术专题讲座
主 讲 人：鞠焕鑫 博士
讲座时间：2025年3月20日(星期四)下午15:00—16:30
讲座地点：分析测试中心四楼会议室（五山校区20号楼409室）
讲座内容：
1.TOF-SIMS技术原理；
2.TOF-SIMS核心优势；
3.TOF-SIMS在各领域具体应用案例。
主办单位：分析测试中心
报告摘要：
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）采用脉冲离子束将样品表面离子化，结合飞行时间质量分析器对二次离子荷质比进行精准检测，获取样品表面的元素组成、分子结构及空间分布等信息，展现出了独特的技术优势：
本次报告将深入讲解TOF-SIMS的技术原理与核心优势，结合半导体、新能源、生物医学等领域的应用案例，展现其在表界面科学研究中的重要作用。
报告人简介：
鞠焕鑫博士，爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用科学家，应用与市场总监，兼任四川大学和华南理工大学研究生校外企业导师。在中国科学技术大学获得学士、博士学位，2014年-2018年在国家同步辐射实验室担任线站科学家，历任博士后和特任副研究员。长期聚焦能源材料表界面电子结构解析与X射线谱学方法学开发，主持并参与多个国家级科研项目，与用户合作在Science、Nature及其子刊、JACS、Angew、AM等期刊发表学术论文百余篇。
