2024年分析测试中心技术系列讲座之四 小针尖 大世界——扫描探针显微镜在微区分析中的应用及微区关联成像技术进展

讲座主题:小针尖 大世界——扫描探针显微镜在微区分析中的应用及微区关联成像技术进展

主 讲 人:刘金超  高级实验师

讲座时间:9月26日(星期四)下午15:00—16:30

讲座地点:分析测试中心四楼会议室(五山校区20号楼409室)

讲座内容: 

1. 中心现有扫描探针显微镜的功能介绍

2. 数据采集技巧及结果分析的经验分享

3. 自主研发的微区关联成像新技术进展

 

主办单位:分析测试中心

 

报告摘要:

扫描探针显微镜是利用探针与样品之间相互作用力来进行表面三维形貌成像,力学、电磁学性能测试的微区分析设备,分辨率最高可达0.1 nm,可在真空、大气及液相下进行测试,非常适合作为原位实验及关联成像的平台。本讲座将从仪器的工作原理出发,详细讲解扫描探针显微镜在材料微区表征中的应用,通过具体案例来阐述该仪器能够提供的数据及样品制备、数据处理方法。此外还将介绍中心微区室的自研技术——微区同位关联成像系统的应用。欢迎感兴趣的师生参加!

主讲人简介:

刘金超,博士,高级实验师,主要负责扫描探针显微镜、电镜及相关制样设备的分析测试与维护工作,长期从事微纳结构材料的表征研究工作,在材料微纳关联成像领域开展了一系列有实用价值的工作,研发的微区关联成像技术不仅在科研领域为诸多高水平论文提供了关键数据,还在工程领域也取得了应用。在Acta Materialia、 Applied Catalysis B: Environmental等专业期刊发表SCI/EI科研论文13篇,授权发明专利3项,主持广东省自然科学基金、中央高校基本科研业务费等项目,参与多项国家级科研项目。

 


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