FEI Quanta FEG 250场发射扫描电子显微镜


一、 主要规格及技术指标

  

电子光学系统:具体指标:

1.分辨率:二次电子(SE)像

    高真空模式:30 kV1.0 nm1 kV3.0 nm

    低真空模式:30 kV1.4 nm3 kV3.0 nm

    环境真空模式(ESEM)30 kV时优于1.4 nm

2 加速电压:0.2kV30KV

3 放大倍数:14倍-100万倍

二、附件

1.牛津能谱仪OXFORD X-max50

   元素分析范围Be4—Cf98;

三、用途

场发射扫描电子显微镜用于检测固体表面显微微观形貌、填充颗粒分布情况的观察与分析


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