test(以下为旧站栏目)

Fault diagnosis and prognosis based on Lebesgue sampling

Dr. Ben B. Zhang

2015-06-08

 报 告 人:Dr. Ben B. Zhang

 

报告时间:201506月08日(星期一)下午15:00
 
报告地点:华南理工大学自动化科学与工程学院6楼会议室
 
**********************************************************
Biography
 张斌博士现在美国南卡罗来那大学(University of South Carolina)电子工程系任助理教授。张斌博士在南京理工大学获得学士和硕士学位,并在新加坡南洋理工大学获得博士学位。毕业后,他先后加入乔治亚理工大学(Georgia Institute of Technology)做博士后研究,Impact Technologies LLC及通用汽车研发中心进行故障诊断及健康管理的研究。张斌博士的研究主要在故障诊断,预诊断,基于状态的维护以及机器人和电力电子控制,并在这些相关领域发表100多篇学术论文。张斌博士目前在IEEE Transactions on Industrial Electronics担任副主编,并参与多个国际会议的组织与运行。