透射电子显微镜 JEOL JEM-1400plus

透射电子显微镜

厂家:日本电子株式会社

型号:JEM-1400plus

主要技术指标:

1、点分辨率:0.33nm;线分辨率:0.14nm

2、加速电压:40~120KV

3、倾斜角(X/Y):±25/±25°

4、配备德国Bruker公司电制冷能谱仪 Quantax 200,配备XFlash® 5030T探测器

应用范围:

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析;

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测;

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定;

4. 适合于快速进样。


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