纳米颗粒分析仪 HORIBA SZ-100Z


纳米颗粒分析仪

Nanoparticle analyzer)

生产厂家:日本HORIBA公司

型号SZ-100Z

要技术指标:

采用动态光散射法测试粒子粒径,采用激光多普勒电泳法测试样品的ZETA电位

1.粒径测量范围:0.3nm — 8μm;Zeta电位测量范围:-200mV—200mV

2.采用绿光光源,波长为 532nm

3.检测器:共4个检测器,3个PMT检测器,1个PD检测器。

4.粒度测试样品池:标准比色皿(石英/一次性塑料);

   电位测试样品池:石墨电极池(适用水相),石英-金电极池(适用有机相)

5.样品用量:3ml(粒度);100uL(电位)

6.样品载体:水、乙醇、有机溶剂(粒度);水、乙醇、有机溶剂(电位)

7.测试温度:1-90℃

8.最大样品浓度:40 wt%(与样品有关)

9.电位测试颗粒尺寸范围:2.0 nm—100 um

应用范围:

1.纳米颗粒分析仪是一款用于纳米粒子粒径测量的设备,它可以一次测量同时实现对纳米粒子三项参数的表征:粒径、Zeta电位和分子量。

2.该设备主要应用于化妆品、制药、食品等行业的粒径及Zeta电位测量。

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