场发射透射电子显微镜 厂家:日本电子株式会社 型号:JEM-2100F | 主要技术指标: 1、点分辨率:0.25nm;线分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm 2、加速电压:80,100,160,200KV 3、倾斜角(X/Y):±42/±30°; 4、配备德国Bruker公司XFlash 5030T型X射线能谱仪 应用范围: 1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析; 2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测; 3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定; 4.复合材料界面特性的研究。 |