波长色散X射线荧光光谱仪 PANalytical Axios Pw4400

波长色散X射线荧光光谱仪

（Wavelength Dispersive X-Ray 

Fluorescence Spectrometer)

仪器型号：Axios Pw4400

生产厂家：荷兰帕纳科公司

主要技术指标：

1、仪器功率：铑靶端窗X光管，4 kW

2、分析元素范围：O⁸~U⁹²

3、样品元素浓度范围：ppm~100%

4、准确度：0.05%（相对误差）

应用范围：

X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，广泛应用于钢铁、冶金、石化、地质、环保、玻璃、陶瓷、磁性材料、水泥、建材、机械、电子等领域材料的化学元素成分分析

样品要求：

1、固体：

试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无污染，硫化物、金属单质样品需特殊注明。金属材质，需要先对金属材质的表面进行打磨，把表皮的氧化物和污渍去掉。

尺寸要求（mm）：大小：10×10～32×32；厚度：金属、陶瓷等 1～20，塑料等有机质基体 5～20。

2、粉末：

（1）压片法

样品均匀，经干燥处理，粒度>200目，样品量>5g，压片成形性较好

（2）熔融法

样品均匀、粒度>200目，样品量>2g