校内相关人员:
为了使学校研究人员更好地使用原子力显微镜进行科研活动,分析测试中心邀请Bruker资深应用工程师孙昊博士来我校进行技术讲座。
讲座题目:Advances in Mechanical Properties Measurement of Nano-Materials Characterization by Bruker AFM
主要介绍近两年Bruker AFM在力学测量方面的进展,包括对力曲线和Force Volume的改进,对Peak Force QNM测量准确性的改进,以及新的Contact Resonance,Ramp & Hold和Ramp Scripting。
讲座时间:2016年12月7日(星期三)下午15:00-16:00
讲座地点:分析测试中心四楼会议室
欢迎广大师生参加!
分析测试中心
2016年12月5日
主讲人简介:
孙昊,2010年博士毕业于北京大学化学与分子工程学院,师从李彦教授,主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。毕业后加入Bruker纳米表面仪器部担任技术支持工程师,自2012年5月起担任Bruker中国客户服务中心及售后服务主管,2016年10月起担任应用科学家。
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